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GaN Systems的白皮书概述了寿命和可靠性测试过程及结果
  发布时间:2020-09-16   

加拿大安大略省渥太华的GaN Systems Inc(开发用于电源转换和控制应用的氮化镓基功率开关半导体无晶圆厂开发商)发布了一份白皮书,显示该公司的氮化镓器件是可靠的,并已通过超过JEDEC和AEC-Q101的测试规范。

白皮书《GaN功率半导体的资格和可靠性:与合作伙伴和客户的协作方法》概述了由GaN Systems及其客户开发的增强的认证战略和流程。本文还展示了基于这些新测试方法在GaN Systems器件上的应用所得出的结果。

现有的GaN功率晶体管认证准则和标准以已经有数十年的使用和可靠性数据的硅晶体管为基础。GaN Systems表示,由于GaN和其他宽带隙晶体管的材料和结构不同,因此资格鉴定需要仔细研究如何以及采用哪些测试准则。更新的可靠性测试方法尤其重要,因为对电子系统寿命进行建模的任务配置文件正在不断变化。

GaN Systems及其来自全球汽车,工业和高可靠性(HiRel)行业的合作伙伴应对寿命和可靠性挑战,提出了一种方法,该方法汲取了JEDEC和AEC-Q的考虑以及对资格测试中行业挑战的理解。

GaN Systems的白皮书对此进行了论述,并概述如下:

  • 协作方法策略着眼于器件故障模式,晶体管测试设计和制造过程反馈。
  • 使用JEDEC和AEC-Q101测试作为基准的增强的产品鉴定过程以及其他测试方法,以解决硅和GaN之间的差异以及GaN Systems器件的测试结果。
  • 通过确定故障机制并应用故障模式和影响分析(FMEA),构建零件以及测试到故障的过程来定义寿命模型。还显示了GaN Systems器件的测试结果。

“ GaN尚未得到证实或不可靠的假设不再是问题。在过去的几年中,我们已经看到全球公司继续使用和引入以GaN Systems的功率半导体为设计基础的创新产品和系统,”首席执行官Jim Witham说。“很明显,我们与客户进行的工作在一起,以创建增强的可靠性测试集,从而确保GaN Systems的器件在最具挑战性的环境中展现出行业领先的性能和使用寿命。”

更多信息,请访问:www.gansystems.com

Qualification and Reliability of GaN Power Semiconductors: A Collaborative Approach with Partners and Customers

文章来源:Semiconductor Today

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